此工具提供了一種較快速有效的自動(dòng)化測(cè)試板級(jí) DRAM 顆粒的手段,在一定的條件下,可通過(guò) USB 連接,無(wú)需燒寫(xiě)固件,達(dá)到診斷不良板子 DRAM 顆粒壞片、虛焊、短路的快速定位,提高產(chǎn)線維修時(shí)的診斷效率。
目前工具可以支持 A10 和 A13 兩種平臺(tái)的測(cè)試。用戶可以根據(jù)實(shí)際設(shè)備采用的平臺(tái)選擇相應(yīng)的選項(xiàng)。
若用戶使用 A13 檢測(cè),則選擇
若用戶使用 A10 檢測(cè),則選擇
按住 UBOOT 鍵不放[不啟動(dòng) flash 中固件],被檢測(cè)的板子通過(guò) USB 插入 PC,工具開(kāi)始檢測(cè)
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